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kogakubu 23 nakamura,wada,natori,dang	pdf	408 KB	133

論文情報

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アイテムタイプ	紀要論文
タイトル	微細化MOSFETの信頼性 : インパクトイオン化現象とその抑制
その他のタイトル	Reliability of the miniaturized MOSFT's : Impact ionization and it's control
著者	著者名 中村, 光利
	著者名 和田, 哲典
	著者名 名取, 親司
	著者名 檀, 良
	著者名 Nakamura, Mitsutoshi
	著者名 Wada, Tetsunori
	著者名 NATORI, Shinji
	著者名 Dang, Ryo
言語	jpn
ISSN	04412494
DOI	https://doi.org/10.15002/00004014
出版者	法政大学工学部
雑誌名	法政大学工学部研究集報
	法政大学工学部研究集報
巻	23
開始ページ	37
終了ページ	46
発行年	1987-03
資源タイプ	Article
書誌レコードID	AN00226011
インデックス	資料タイプ別 ＞ 紀要 ＞ 法政大学工学部研究集報
	114 工学部 (旧) ・工学研究科 ＞ 紀要 ＞ 法政大学工学部研究集報 ＞ 23

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